Набор должен быть предназначен для определения длины волны излучения полупроводникового лазера и постоянной Планка. Состав должен быть следующий: Платформа с полупроводниковым лазером и источником питания; Дифракционная решетка не менее 150 штр./мм; Линейка с магнитами.